無錫澤鎂科技
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通過石灰石標(biāo)準(zhǔn)樣品高溫灼燒后繪制校準(zhǔn)曲線,解決了繪制校準(zhǔn)曲線用活性類石灰無標(biāo)準(zhǔn)樣品,又難同時(shí)準(zhǔn)備足夠多且有梯度生產(chǎn)樣品等難題;燒結(jié)用石灰樣品經(jīng)高溫灼燒后壓片制樣,大大減小了石灰樣品基體干擾并完全消除粒度效應(yīng),從而實(shí)現(xiàn)粉末壓片-X射線熒光光譜法對石灰石、活性石灰、生石灰中氧化鈣、氧化鎂和二氧化硅含量的測定。氧化鈣、氧化鎂和二氧化硅校準(zhǔn)曲線的相關(guān)系數(shù)均大于0.999。
對同一活性石灰樣品進(jìn)行精密度考察,3種組分測定結(jié)果的相對標(biāo)準(zhǔn)偏差(RSD,n=11)在0.086%~2.3%范圍內(nèi)。對生石灰、活性石灰煉鐵燒結(jié)工序生產(chǎn)樣品進(jìn)行分析,測定值與熔融制樣-X射線熒光光譜法的測定值一致;對石灰石標(biāo)準(zhǔn)樣品進(jìn)行分析,測定值與校正后的認(rèn)定值相吻合。